Manhattan picture worlds

Buch

Titel: Manhattan picture worlds : Thomas Wrede ; [anlässlich der AusstellungManhattan, Picture Worlds, 05. März - 25. April 2009, New Quarters Beck & Eggeling] / mit Texten von Christoph Schaden ; Marshall Berman. [Gestaltung Sylvia Handschuh. Übers. Stephanie Klco-Brosius ; Tanja Ohlsen]
Reihe: Kerber photoart
Person(en): Wrede, Thomas [Illustration] ; Berman, Marshall [Mitwirkende*r] ; Schaden, Christoph [Mitwirkende*r] ; Handschuh, Sylvia [Herausgeber*in]
Organisation(en): Beck & Eggeling New Quarters [Herausgebendes Organ] ; Ausstellung Manhattan, Picture Worlds <2009, Düsseldorf> [Herausgebendes Organ]
Sprache: Deutsch
Originalsprache: Deutsch
Umfang: 115 S. : überw. Ill. ; 32 cm
Erschienen: Bielefeld Leipzig : Kerber, 2009
ISBN/Preis: 978-3-86678-244-0 Pp. : EUR 48.00, ca. sfr 79.00 (freier Pr.)
Schlagwörter: Wrede, Thomas ; Fotografie ; Werbeplakat ; New York- Manhattan ; Bildband ; Bildband ; Konferenzschrift
Link(s): Inhaltsverzeichnis Inhaltstext
Anmerkungen: Text dt. und engl.
Signatur: UNTERHALTUNG und KREATIVITÄT > Kunst und Fotografie
Wgk 3.2 WRED MANH

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